DMS 智能缺陷管理系統

DMS - Defect Management System 是太引資訊 YMS (良率提升管理解決方案) 架構中的核心支柱。作為一套專為精密製造業打造的全方位智能缺陷數據平台,它能將散落於各製程、各設備間的檢測資料(如 AOI、AVI)進行深度整合與交互分析,幫助企業從大數據中提煉出具備決策價值的品質洞察。

  • 光電面板產業、半導體產業、PBC 載板、 IC 載板及封裝測試、車用半導體、5G 技術等尖端電子製造產業。

DMS 設計理念:AI 賦能,讓缺陷管理從被動修復轉為主動預知

靈活性

提供模組化工具,使用者可自主定義、變更分析規則。

無縫連貫

串聯 AYEDAS/YMS,直擊缺陷與良率的連動關係。

開放性

支持全格式數據,賦予企業自由跨界整合的主控權。

主動預警

AI 即時監控與叢集辨識,將品質變異扼殺於起點。

DMS 核心模組

透過智能分析與自動化工具,解決良率提升過程中的數據處理痛點。

缺陷監控

一鍵精準查詢,零時差掌握製程異常動態。

缺陷來源追蹤

利用精確數據區分新增缺陷與來源缺陷,明確指出污染源。

影像檢視

高效能晶圓影像導航,支援極致縮放與點選分析,洞察細微缺陷。

AI 二次判讀

支援 AI 自動分類後的複核與重判機制,不僅能修正當下的分類結果,還能將修正後的數據回饋給系統,持續進化分類演算法的準確度。

疊加分析

將缺陷點與機台接觸點疊加,確認相關性,決定分析。

製程關聯分析

快速連結並識別系統性問題,例如自動化設備(如機械手臂)引起的週期性刮傷。

TYNE DMS:核心競爭優勢

TYNE DMS 智能系統 競爭維度 傳統 DMS / 設備商系統
Vendor-Neutral 開放式架構,支持所有主流機台。 數據架構 封閉式,僅支援單一品牌設備。
與 YMS 原生整合,實現「缺陷至良率」的連貫分析。 分析深度 僅能觀察單點缺陷。
即時前端辨識,主動預警系統性異常(如刮傷)。 AI 應用 事後分類為主,需大量人工介入。
採用模組化設計,能隨時根據廠區規模靈活調整。 系統彈性 固定式功能,難以適應製程微縮。
一鍵式監控與自動溯源,決策反應縮短至秒級。 回應速度 依賴人工產出報表,反應遲滯。

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