Yield Scanning 晶圓快檢系統

Yield Scanning 是專為 IC 設計與封測產業打造的快速檢測分析平台。結合太引資訊多年的良率優化經驗,整合 CP、WAT 與 FT 測試數據,透過自動化分析將原始 Datalog 即時轉化為精準的的產線情報,在加速決策效率的同時,賦予企業持續成長的動能。

  • 光電面板產業、半導體產業、進階封裝與載板、車用半導體、高精密電子零組件、能源與功率元件。

設計理念:化繁為簡,以自動化
取代勞務。

透過自動化繁瑣的數據準備流程,讓企業最昂貴的人力資源能專注於具高影響力的問題解決。

多源數據標準化

自動抓取並整合/串接來自不同供應商及不同測試機台的異質 Datalog。

流暢視覺體驗

將巨量影像分析簡化為極致流暢的操作體驗。

自動化決策報表

消除 90% 的例行公事,釋放高階工程智慧。

深度分析

將複雜的統計學轉化為直覺的決策語言。

Yield Scanning 核心功能

深度視學洞察,精準鎖定良率因子

自動化警示報表

透過自動化統計檢定與特定顏色標示(OOS/OOC),實現『一瞥即辨』的直覺診斷,即可在秒級時間內掌握產線異動。

互動式晶圓圖與 Bin Code 管理

享受『翻書般流暢』的圖庫瀏覽體驗,結合超規警示與互動探索模式,即時切換 Bin Code 並精準鎖定晶片細節,顯著強化跨廠溝通效率。

精準統計分析

整合跨段數據,運用相關係數與差異分析找出影響良率的關鍵參數,輔以嚴謹統計檢定與直觀圖表,實現一站式、客觀的差異性與關聯性診斷。

讓 Yield Scanning 成為您的資料整合夥伴

核心競爭優勢

競爭維度 TYNE Yield Scanning
減少損失 透過相關係數報告與自動告警,識別與修復異常的時間大幅縮短,直接減少生產偏差帶來的財務損失。
卓越營運 自動化的「品管七大手法」應用,能客觀掌握不同測試廠與機台的供應商表現。
策略夥伴 太引資訊不僅是供應商,更是擁有豐富經驗的合作夥伴,致力於提供將製造數據轉化為持續競爭優勢所需的工具。

開始將您的數據轉化為真正的競爭優勢

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