Judge System
設計理念：

線上即時異常管控，第一時間攔截異常並提升良率。

串接機台與 YMS，即時對接 MES。

提供從單點到整批的立體化監控。

具備主動篩選潛在風險品的功能，即時優化出貨品質。

完整歷史紀錄追溯以及嚴謹權限控管。

Judge System 核心功能

即時資料稽核：數據拋轉即同步執行漏測與異常監控，確保資料 100% 完整合規。
閉環式風險管控：
- 自動攔截：深度整合 MES，一旦偵測異常即秒速觸發 Hold 指令，將損害降至最低。
- 精準復測：自動化執行 Re-test 邏輯，大幅提升決策準確度與產線運轉效率。

數據鏈路整合：
- 多站點彙整：同步串聯 CP1、CP2 等各站點測試數據，產出精準的 Final Wafer Map。
- 嚴格失效判定：實施「任一站站點 Fail 即為 Fail」邏輯，確保出貨品質零死角。
智慧複合邏輯:
- 多層次判斷：結合統計邊界與空間演算法（如 DPAT + GDBN），執行多重條件的複合過濾。
- 自定義算式：支援參數間的代數運算，實現更靈敏的異常偵測與風險分級。

毫秒級的即時防錯，傳統流程通常是測試完畢後，由工程師手動抓取資料或透過離線軟體分析，這存在「時間差」風險。

客戶痛點	傳統方式的侷限	TYNE 優勢
損失擴大	事後通知，反應慢	當首片或首顆晶片偵測到連續邏輯異常時，系統將立即觸發指令，實現即時介入與封鎖，防止不良擴大。
客戶退貨	只能抓「硬缺陷」	精準篩選出「規格內異常 (Outlier)」晶片，特別針對處於不良叢集區域（Bad Cluster）的良品進行加強攔截，確保出貨品質。
良率損失	固定規格太嚴或太鬆	動態邊界 (Dynamic PAT)：依據當前批次的數據分佈特徵，動態調整篩選界限，精準識別統計意義上的異常值 (Outliers)。